特伦特大学

• 科研进展

  控制下的自旋缺陷可用于创造量子传感器技术的改进材料

  JMU的研究人员计划实现这样一种堆叠结构。它由金属石墨烯（底部）、绝缘的氮化硼（中间）和半导体的二硫化钼（顶部）组成。红点象征着氮化硼层中的一个单一自旋缺陷。该缺陷可以作为堆栈中的一个局部探针。

  2021年5月2日

  1.7K000