中国地质大学工程技术学院Guowang Tang等–钙促进细菌在氧化石墨烯表面的吸附和沉淀

由于被去除的细菌(Sporosarcina pasteurii)表面带有负电荷,将CaCl2 (Ca2+)引入氧化石墨烯除菌过程中。Ca2+的引入致使氧化石墨烯层的重新聚集,氧化石墨烯中含氧官能团的比例显著增加。AFM和zeta电位结果表明,在Ca2+的存在下,氧化石墨烯表面的负电荷减少,从而减少了对细菌的静电排斥。这导致氧化石墨烯表面的吸引力逐渐增加,并吸附更多的细菌。Ca2+作为桥梁,促进氧化石墨烯和细菌的沉淀,从而去除水环境中的细菌。

有效去除水环境中的细菌是一个热门的研究课题。氧化石墨烯(GO)因其抗菌性能和高表面活性而得到广泛应用。然而,单靠氧化石墨烯并不能通过聚集和沉淀去除水环境中的细菌。在本研究中,由于被去除的细菌(Sporosarcina pasteurii)表面带有负电荷,将CaCl2 (Ca2+)引入氧化石墨烯除菌过程中。Ca2+的引入致使氧化石墨烯层的重新聚集,氧化石墨烯中含氧官能团的比例显著增加。AFM和zeta电位结果表明,在Ca2+的存在下,氧化石墨烯表面的负电荷减少,从而减少了对细菌的静电排斥。这导致氧化石墨烯表面的吸引力逐渐增加,并吸附更多的细菌。Ca2+作为桥梁,促进氧化石墨烯和细菌的沉淀,从而去除水环境中的细菌。GO对细菌的去除率随着Ca2+浓度的增加而增加。

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图1.不含 Ca2+(左)和含 0.005 mol/ L Ca2+(右)的细菌去除实验。

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图2. GO在不同Ca2+浓度下去除不同细菌浓度的效率。

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图3. 在Ca2+浓度为0.005 mol/L时,GO的细菌去除效率随时间的变化。

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图4. GO和GO-CaCl2的XRD谱。

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图5. GO (a、c和e)和GO-CaCl2 (b、d和f)的TEM图像。

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图6. 在TEM模式下绘制GO (a、b和c)和GO-CaCl2 (d、e、f、g和h)的图像。

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图7. GO和GO-CaCl2的红外光谱。

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图8. XPS光谱:(a)GO和GO-CaCl2的全光谱;GO-CaCl2的钙Ca2p。

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图9. GO (a,b)和GO-CaCl2 (c,b)的C1s和O1s XPS峰拟合谱。

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图10. GO (a)和GO-CaCl2 (b)的力-距离曲线。

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图11. GO (a)和GO-CaCl2 (b)、(c)的EFM图像:GO和GO-CaCl2的静电相。

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图12. 不同Ca2+浓度下GO的zeta电位值。

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图13. 含细菌的GO(a)和含细菌的GO-CaCl2(b)的AFM图像。

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图14. Ca2+作用下GO去除机理过程示意图。

相关研究成果由中国地质大学工程技术学院Guowang Tang等人于2024年发表在Applied Surface Science(https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.159877)上。

原文:Calcium-facilitated adsorption and precipitation of bacteria on the graphene oxide surface

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