调节石墨烯/镍复合薄膜的导电网络以实现可调谐电磁屏蔽

首先,通过优化激光功率和扫描路径,构建了有序、高浓度的石墨烯导电网络,即使在显着的宏观变形下也能实现石墨烯的互连。随后,采用脉冲电沉积技术在石墨烯壁上沉积镍纳米颗粒(Ni NP),这不仅会引入磁损耗,而且还可以增强导电性并降低边缘接触电阻。Ni NP的这种显着掺入创建了补充导电通路,确保了持续的导电通路。应变释放后网络的高电导率。

文章通过将镍掺杂的LIG转移到硅树脂上来实现可拉伸和可逆的导电框架。首先,通过优化激光功率和扫描路径,构建了有序、高浓度的石墨烯导电网络,即使在显着的宏观变形下也能实现石墨烯的互连。随后,采用脉冲电沉积技术在石墨烯壁上沉积镍纳米颗粒(Ni NP),这不仅会引入磁损耗,而且还可以增强导电性并降低边缘接触电阻。Ni NP的这种显着掺入创建了补充导电通路,确保了持续的导电通路。应变释放后网络的高电导率。研究结果表明,LIG/Ni/Silicone的电导率网络可以通过拉伸和释放的机械操作轻松调节,从而允许在X频段(8.2−12.4 GHz)2.33−68.12 dB的宽范围内调制电磁屏蔽性能。

调节石墨烯/镍复合薄膜的导电网络以实现可调谐电磁屏蔽

图1.(a)LIG/Ni/Silicone的制造工艺;(b)LIG/Ni/Silicone的可调屏蔽效能机制

使用商业聚酰亚胺(PI)薄膜作为前驱体,通过CO2激光雕刻机在室温下对PI薄膜进行激光诱导热分解,制备周期性排列的3D激光诱导石墨烯(LIG)。首先沿X轴进行单次扫描制备石墨烯,调整不同的激光功率(2.4,3.6,4.8,和6.0 W),扫描速度为150 mm/s,扫描间隔为0.125 mm。随后,沿Y轴进行二次扫描,创建周期性排列的石墨烯结构,同样调整不同的激光功率。拉曼分析如图2a所示,揭示了首次扫描LIG的特征峰:约1350 cm−1处的D峰,由缺陷或2-碳键扭曲引起;G峰位于1580 cm−1 左右;2D峰位于大约2700 cm−1处,两者均源自二阶区边界声子。通常,较小的ID/IG比和较大的 I2D/IG比表明石墨烯样品中的缺陷较少,因此表明质量更高。在图2b中,很明显,激光功率从从2.4W到4.8W,LIG的ID/IG比值逐渐减小。在4.8W激光功率下,ID/IG比值达到最小值0.36,表明4.8W激光功率下石墨烯的缺陷最少。然而,随着功率进一步增加到6.0W,石墨烯的ID/IG比急剧增加到0.72。在此期间,高激光功率导致石墨烯缺陷显着增加。同时,根据LIG在不同功率水平下的I2D/IG比值,LIG在3.6和4.8时的I2D/IG比值相对较高,分别为0.89和0.82。

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图2.(a)单扫描LIG的拉曼光谱;(b)单扫描LIG的ID/IG和I2D/IG比率;(c)单扫描LIG的方块电阻和电导率;(d)双扫描LIG的拉曼光谱;(e)双扫描LIG的ID/IG和I2D/IG比率;(f)双扫描LIG的方块电阻和电导率。

采用脉冲电沉积技术在LIG上沉积镍纳米粒子(Ni NPs)。将含有镍盐和硼酸的溶液作为电镀液,LIG作为工作电极,铂膜作为对电极,饱和甘汞电极(SCE)作为参比电极,进行多步电流沉积。设置脉冲持续时间为0.5秒,总沉积时间为30分钟。使用SEM检查不同电流密度下的LIG/Ni样品的形貌,如图3所示。在图3a中,可以辨别出层状和多孔石墨烯结构。电流密度为-5mA·cm-2、-10 mA·cm-2、-15 mA·cm-2、-20 mA·cm-2的脉冲电沉积LIG/Ni分别如图3b、c、d和f所示,揭示了石墨烯表面纳米级颗粒的沉积。随着电流密度从-5mA·cm-2逐渐增加到-20 mA·cm-2 ,观察到纳米颗粒的负载量、尺寸和形貌发生显着变化。具体来说,随着电流密度的增加,Ni NPs的沉积速率增加,导致负载量显着增加。当电流密度从-5mA·cm-2升高到-10 mA·cm-2时,NiNPs的尺寸没有增加,只有数量增加。

调节石墨烯/镍复合薄膜的导电网络以实现可调谐电磁屏蔽

图3.(a)三维多孔LIG;(b)LIG/Ni-5;(c)LIG/Ni-10;(d)LIG/Ni-15;(e)LIG/Ni-15的EDS测绘;(f)LIG/Ni-20;(g)LIG/Ni的TEM图像;(h)LIG/Ni的HRTEM图像;(i)LIG/Ni的SAED模式。

最后使用Ecoflex-0030硅胶,由A和B两组分组成,A组分主要含有硅氧烷单体和交联剂,B组分为固化剂,主要由含氢硅烷组成。将A和B组分按1:1质量比混合均匀,加入10%硅胶稀释剂和硅烷偶联剂(KH570)以增加硅胶对石墨烯的亲和力。将制备好的石墨烯水平放置在玻璃容器中,将改性后的硅胶倒入其上。将容器放入真空烘箱中10分钟,使硅胶渗透到石墨烯内部,然后转移到爆破炉中加热20分钟以固化硅胶。硅胶固化后,可以从PI基底上小心剥离复合薄膜。

对得到得复合薄膜进行性能测试。如图4所示。随着沉积电流密度的增加,LIG/Ni/Silicone的方块电阻降低。最初,LIG/硅酮的方块电阻约为30.0Ω/sq。在-5mA·cm-2下电沉积NiNPs后,复合材料的方块电阻降至9.94 Ω/sq。进一步增加电流密度至-10 mA·cm-2和-15 mA·cm-2导致薄层电阻分别降低至4.2和2.89Ω/sq。随着材料中Ni含量的增加,材料的饱和磁化强度随着氮化物沉积电流密度的增加而增加。饱和磁化强度的增加对应于界面磁导率的增加。根据电磁屏蔽公式的理论计算,材料电性能和磁性能的增强必然导致SEA的增加,从而获得优异的屏蔽性能。随着电流密度从-5mA·cm-2增加到-10 mA·cm-2和-15 mA·cm-2,复合材料的电磁屏蔽效能显着提高,分别达到36.65、57.28和73.27 dB。此外,LIG、Ni和硅之间明显的电失配显着增强了异质界面,促进了极化弛豫和电荷积累。这有利于通过界面效应消散电磁波。

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图4.(a)LIG/Ni/Silicone的电特性。(b)LIG/Ni/Silicone的磁性;(c−e)X频段 LIG/Ni/Silicone的EMI SE;(f)LIG/Ni/Silicone的反射系数(R)、吸收系数(A)和透射系数(T)比较。

Regulating the Conductive Network of Graphene/Ni Composite Films toward Tunable Electromagnetic Shielding Efficiency

https://doi.org/10.1021/acsami.4c13043

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