App.Mater.&Inter.:二维材料范德华结的干法转移至图案化基底!!

提出了一种使用PVC/PDMS印章从SiO2/Si基底向图案化基底转移2D晶体薄片的方法。通过调整PVC层中高粘度增塑剂的含量,实现了对PVC/PDMS印章的粘附性和曲率的优化,从而提高了转移成功率。

本文介绍了一种将二维(2D)材料从SiO2基底转移到图案化基底的方法,该方法使用聚氯乙烯(PVC)层安装在聚二甲基硅氧烷(PDMS)印章结构上。通过调整PVC/PDMS印章的粘附性和曲率,实现了高成功率的2D晶体薄片的干式转移。这种方法不仅能够转移2D晶体薄片,还能够制造悬浮的范德华(vdW)异质结构,并通过在Au涂层的沟槽基底上简单地转移vdW异质结构来制造悬浮的vdW场效应晶体管器件。

背景

二维晶体薄片如石墨烯和过渡金属二硫化物(TMDs)具有薄且柔性的特点,可以通过热塑性聚合物从一基底机械拾取并转移到另一基底。将2D晶体薄片转移到图案化基底上,可以制造出多种功能和应用的结构,例如悬浮膜。这些悬浮膜被用于研究2D材料的机械强度、振动频率和应变依赖性质,以及在透射电子显微镜(TEM)和热测量中的热传导和光吸收最小化。

主要内容

  • 提出了一种使用PVC/PDMS印章从SiO2/Si基底向图案化基底转移2D晶体薄片的方法。
  • 通过调整PVC层中高粘度增塑剂的含量,实现了对PVC/PDMS印章的粘附性和曲率的优化,从而提高了转移成功率。
  • 展示了通过在PVC/PDMS印章上组装2D晶体薄片并转移到图案化基底上,制造悬浮vdW异质结构的能力。
  • 利用该方法制造了悬浮vdW场效应晶体管器件,并通过离子门控调节载流子密度。

实验细节概括

  • 使用机械剥离法在SiO2/Si基底上制备2D晶体薄片。
  • 制备PVC薄膜和PDMS印章,并将PVC薄膜安装在PDMS印章上。
  • 通过控制加热器温度,调整PVC印章与2D晶体薄片之间的粘附力,实现晶体薄片的拾取和释放。
  • 将2D晶体薄片转移到具有不同表面结构的Si基底上,如沟槽、圆孔和周期性孔或沟槽图案。
  • 通过在PVC/PDMS印章上顺序拾取多个2D晶体薄片,制造悬浮vdW异质结构。

创新点

  1. 提出了一种干式转移方法,避免了传统湿法转移中溶剂浸泡可能导致的2D晶体薄片破坏。
  2. 使用PVC/PDMS印章,实现了对2D晶体薄片的高成功率转移。
  3. 通过调整PVC层中增塑剂的含量,优化了印章的粘附性和曲率,提高了转移过程中的定位精度和成功率。
  4. 展示了在Au涂层的沟槽基底上制造悬浮vdW场效应晶体管器件的能力,拓宽了2D材料的应用范围。
  5. 转移成功率:通过优化PVC层中增塑剂的含量,实现了高成功率的2D晶体薄片转移。
  6. 印章结构优化:使用半圆柱形(kamaboko-shaped)PDMS作为机械支撑,提高了转移过程中的定位精度和成功率。
  7. 增塑剂粘度影响:使用高粘度的增塑剂(PN-5090)与PVC层结合,提高了转移到Au涂层基底的成功率。
  8. 塑料含量调整:PVC薄膜中增塑剂含量的调整对于实现高成功率的干式释放至关重要,50 phr(每百树脂)的增塑剂含量被确定为最佳。
  9. 器件性能:制造的悬浮h-BN/TLG器件在室温和真空条件下展示了良好的欧姆接触,接触电阻率约为6 × 10^-5 Ω·cm^2,表明通过该方法实现了h-BN/TLG与Au基底之间的良好接触。

结论

本研究展示了一种基于从SiO2/Si基底拾取剥离的2D晶体薄片并将其转移到图案化基底的方法,以制造悬浮的2D晶体薄片结构。通过优化PVC/PDMS印章的粘附性和曲率,实现了高成功率的干式释放2D晶体薄片,避免了溶剂浸泡的可能破坏。这种方法有望促进具有各种表面结构的基底上2D晶体薄片的转移,从而扩大2D材料的应用范围。

图文内容

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图1。(a) 二维晶体薄片转移装置的示意图。(b) 转移过程的示意图。(c) 照片流程图,展示了从二氧化硅/硅(SiO2/Si)基底向带有沟槽图案的硅(Si)基底转移六方氮化硼(h-BN)薄片的过程。

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图2. 将六方氮化硼(h-BN)薄片转移到具有(a)沟槽、(b)孔、(c)周期性孔和(d)六边形孔图案结构的硅基底上:示意图(第一行)、显微照片(第二行)、显微照片中叠加的黑色矩形框高亮区域的原子力显微镜(AFM)图像(第三行),以及对应AFM图中蓝色线标记位置的横截面AFM轮廓(第四行)及示意图(第五行)。

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图3. 在图案化硅基底上制备范德华(vdW)异质结构:(a) 沟槽上的六方氮化硼(h-BN)/石墨烯、(b) 孔上的h-BN/石墨烯/h-BN、(c) 孔图案上的h-BN/石墨烯以及(d) 孔图案上的二硫化钼(MoS2)/石墨烯的示意图(第一行)和显微照片(第二行)。叠加的虚线表示石墨烯的位置。

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图4。(a) PVC/PDMS印章示意图。(b) 在使用鱼糕形(左)和穹顶形(右)PDMS进行干脱模过程中施加力的方向。(c) 显示鱼糕形(左)和穹顶形(右)PDMS的俯视图和横截面的显微照片。红色线条是叠加在图像上的表面弧线的拟合线,用于突出不同的曲率。(d) 在干脱模过程中,根据增塑剂类型的不同,PVC膜与基底之间的剥离界面存在差异:含有78份增塑剂DOP的PVC膜(左)和含有50份增塑剂PN-5090的PVC膜(右)。

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图5。(a) 带有分裂式Au/Cr电极的悬浮六方氮化硼(h-BN)/石墨烯场效应晶体管(FET)器件示意图。离子液体被注入凹槽中,并用作液体栅极以调节载流子浓度。(b) 器件的横截面结构。(c) 室温下,两端电阻随栅极电压(下轴)和载流子浓度(上轴)的变化关系。插图:器件的显微照片。叠加的虚线轮廓表示三层石墨烯(TLG)。

文献:

Dry Transfer of van der Waals Junctions of Two-Dimensional Materials onto Patterned Substrates Using Plasticized Poly(vinylchloride)/Kamaboko-Shaped Polydimethylsiloxane , App.Mater.&Inter,2024.

https://doi.org/10.1021/acsami.4c05972

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