为加强学术交流,开阔科研人员思路和视野,不断提高科研水平。5月9日,BGI“墨园学堂”第三十八讲在博雅厅进行,本次讲座邀请到中国科学技术大学化学博士、桂林电子科技大学电子封装技术系胡晓凯教授到研究院作学术报告,吸引了相关部门人员到场学习并参与交流讨论。
报告中,胡晓凯教授以《热电半导体和异质界面电阻率测试新方法》为主题,介绍了热电子学、热电工原理、半导体热电材料的性能,由此引入数学公式推导圆片样品电阻率公式,再围绕柱状和圆片样品的实验比较、电阻率测试的有限元模拟仿真与误差分析展开深入讨论。
期间,他着重介绍了两种界面电阻率测试方法与界面材料设计,以及三点拟合法原理和专利技术,研制扫描探针法界面电阻率测试仪器和实验测试等问题。
在近2个小时的时间里,胡晓凯教授为大家作了一堂精彩纷呈的报告。随后,他与现场人员就热电半导体和异质界面电阻率测试新方法的优势和难点等问题进行了交流和探讨。
“墨园学堂”作为BGI重要的文化品牌活动,定期邀请行业专家、学者到研究院作报告,旨在通过与他们的交流增强学术氛围,提高大家潜心科研、助力产业发展的意识,以打造有方法、有干劲、有追求的石墨烯科研和产业化团队,共同促进石墨烯产业高质量发展。
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