SCMs|二维材料厚度与片径的独立筛分

本文还进一步发展了一种力场提取法,实现了二维六方氮化硼、二硫化钼和氧化石墨烯的规模化片径筛分,是二维材料片径筛分的普适方法。

二维材料是当前科学研究的前沿领域。二维材料的性质与其厚度和片径密切相关,如何获得厚度和片径均匀且可调控的二维材料,是其应用的关键。近日,清华大学深圳国际研究生院刘碧录副教授等人SCIENCE CHINA Materials发表研究论文,提出了一种三步筛分法,实现了二维材料厚度与片径的独立筛分。

SCMs|二维材料厚度与片径的独立筛分

图1 三步筛分法示意图。

以二维六方氮化硼为例,三步筛分法可以将其厚度和片径独立地筛分为不同组分,所得组分均具有较窄的厚度和片径分布,且厚度全部小于6 nm。

SCMs|二维材料厚度与片径的独立筛分

图2 三步筛分法独立地筛分二维六方氮化硼。

本文还进一步发展了一种力场提取法,实现了二维六方氮化硼、二硫化钼和氧化石墨烯的规模化片径筛分,是二维材料片径筛分的普适方法。

本工作提出的筛分方法可制备出结构均一的二维材料,对其基础研究与应用意义深远。

文章信息

Zhou, H., Tan, J., Yang, L. et al. Independent thickness and lateral size sorting of two-dimensional materials. Sci. China Mater. (2021). https://doi.org/10.1007/s40843-021-1690-2

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